Dr. Oliver Bunk

Dr. Oliver Bunk entwickelt und wendet fortgeschrittene Röntgen-Imaging-Techniken an, um die innere Struktur biologischer Gewebe ohne Zerstörung sichtbar zu machen. Sein aktueller Fokus liegt auf der Kombination von Röntgen-Nanotomographie und Small-Angle-X-ray-Scattering-Tensor-Tomography (SAS-TT), um Gewebe wie Gehirn, Knochen-Knorpel-Schnittstellen und Brustgewebe in ultrafeiner räumlicher Auflösung zu untersuchen. Ein zentrales Anwendungsfeld ist die Diagnostik von Brustkrebs: durch die Charakterisierung von Mikroverkalkungen kann er zwischen gutartigen und bösartigen Befunden unterscheiden und damit unnötige Biopsien reduzieren. Die Techniken sind auch für Materialwissenschaften (Kollagenstruktur, Halbleiter) und die biomedizinische Grundlagenforschung relevant, da sie schneller und zerstörungsfrei arbeiten als etablierte Verfahren wie Elektronenmikroskopie.

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• FOR 2537/2: "Grammatische Dynamiken im Sprachkontakt: ein komparativer Ansatz" (TP P8)

  Quelle ↗

  Förderer: DFG Forschungsgruppe Zeitraum: 04/2021 - 12/2025 Projektleitung: Dr. Oliver Bunk

• SFB 1412/2: Der Einfluss von Sprachideologien auf Registerdifferenzierungen in mehrsprachigen Kontexten (TP C07)

  Quelle ↗
  409-02 · Softwaretechnik und Programmiersprachen

  Förderer: DFG Sonderforschungsbereich Zeitraum: 01/2024 - 12/2027 Projektleitung: Dr. Oliver Bunk, Prof. Dr. Heike Wiese, Dr. Antje Sauermann

• Phase retrieval and differential phase-contrast imaging with low-brilliance X-ray sources

  2006

  Nature Physics · DOI

• High-Resolution Scanning X-ray Diffraction Microscopy

  2008

  Science · DOI

  Coherent diffractive imaging (CDI) and scanning transmission x-ray microscopy (STXM) are two popular microscopy techniques that have evolved quite independently. CDI promises to reach resolutions below 10 nanometers, but the reconstruction procedures put stringent requirements on data quality and sample preparation. In contrast, STXM features straightforward data analysis, but its resolution is limited by the spot size on the specimen. We demonstrate a ptychographic imaging method that bridges the gap between CDI and STXM by measuring complete diffraction patterns at each point of a STXM scan. The high penetration power of x-rays in combination with the high spatial resolution will allow investigation of a wide range of complex mesoscopic life and material science specimens, such as embedded semiconductor devices or cellular networks.

• Hard-X-ray dark-field imaging using a grating interferometer

  2008

  Nature Materials · DOI