Forschende

1 Treffer mit Thema „X-ray Reflektometrie" in Philosophische Fakultät, Mathematisch-Naturwissenschaftliche Fakultät · Themen-Filter entfernen

Dr. Kowarik entwickelt hochfrequente Röntgen-Messmethoden zur Echtzeitbeobachtung von Dünnschichtwachstum und Oberflächenprozessen.